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蔡司Crossbeam系列專為高通量樣品制備和3D分析而設(shè)計(jì)的FIB-SEM輕松發(fā)現(xiàn)和設(shè)計(jì)*材料蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM結(jié)合了場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯...

產(chǎn)品介紹：本儀器主要適用于掃描電子顯微鏡鍍覆導(dǎo)電膜（金膜），儀器操作簡(jiǎn)單，是配合中小型掃描電子顯微鏡制樣的儀器

新版EMTIC3X恪守我們的格言：與用戶合作，使用戶受益，以注重實(shí)用性的方式將性能和靈活性理想融合

Talos™ F200X TEM for Materials Science

TheThermoScientificTalosL120CTEMisa20-120kVthermionic(scanning)transmissionelect...

GeminiSEM系列高分辨，不挑樣長(zhǎng)久以來(lái)，蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞

ThermoScientificApreoSEM具有泛地適用性，可以在最短時(shí)間內(nèi)為材料研究人員提供的成像質(zhì)量

全面實(shí)現(xiàn)納米或亞納米分辨性能，從納米顆粒，粉末，催化劑和納米器件到塊狀磁性樣品等材料

蔡司EVO系列模塊化的SEM平臺(tái)適用于直觀操作、例行檢測(cè)和研究應(yīng)用EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起，同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶...

用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡靈活的探測(cè)，4步工作流程，高級(jí)的分析性能將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的Gemini電子光學(xué)元件